Accueil > Term: סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
מבוסס על קרן אלקטרונים מיקרוסקופ המשמש כדי לבדוק, בתמונה שלושה מסך תלת-מימדיים, מבנה פני השטח ולכן מוכן.
- Partie du discours : noun
- Secteur d’activité/Domaine : Biotechnologie
- Catégorie : Genetic engineering
- Organization: FAO
0
Créateur
- Sarah Cohen
-
(V.I.P) 33583 points - 100% positive feedback
(Haifa, Israel)
