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高加速寿命試験 (HALT)

設計欠陥の発見と振動システムを使用して電子、機械アセンブリの弱点のためのプロセスは急速な高温と低温変化と組み合わせます。停止の目的は製品開発の初期段階で、製品の機能と破壊限界を識別することによって製品の信頼性を最適化します。

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Créateur

  • Kenji
  • (Kobe, Japan)

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